Предложен алгоритм генерации диагностических тестов, являющийся модификацией D-алгоритма. Исследованы существующие методы генерации диагностических тестов для цифровых электронных схем, выявлены недостатки. Предложен способ упрощения и распараллеливания алгоритма. Проведены экспериментальные исследования.
The algorithm of generating diagnostics tests as modification of D-algorithm has been proposed. The existent methods of diagnostics tests generation for digital electronic circuits have been investigated and disadvantages identified. The way for algorithm simplification and parallelization has been proposed. The experimental study has been done.
